XRD-6100
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易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀
X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品,進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且,可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密X射線結構解析等各種分析。
配備高精度垂直型測角儀,適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。
- XRD-6100具有本質安全結構。
- 只有門連鎖機構閉鎖時,X射線管才能開啟,具備高安全性。配備高速運轉(1000°/min)及高精度角度重現性(±0.0001°)的垂直型測角儀,可進行各種樣品的測定。驅動機構為獨立2軸驅動,可選擇θ-2θ聯動或θ、2θ軸獨立驅動,特別對薄膜測定行之有效。
- 備有豐富的附件(軟件/硬件)來滿足多種需要。
X射線衍射儀XRD-6100 環境測定包
適合工業環境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。
X射線衍射裝置XRD-6000 環境測定包
適于工業環境中的游離硅以及石棉的定性 · 定量分析。
在勞動安全衛生法中,關于因勞動者在工作中的暴露而對其造成健康損害的92種物質,規定必須實施其作業環境的測定。其中,粉塵中的游離硅以及石棉的定性·定量分析可以使用X射線衍射裝置。
本測定包配備了依據「基底標準吸收校正法」的樣品臺和定量軟件,這不僅是使用X射線衍射裝置XRD-6000對收集在濾紙上的工業環境測定中的游離硅、石棉進行定性分析需要的,在這些微量樣品的定量分析中也是需要的。
游離硅的定性·定量分析
工業環境測定中礦物性粉塵的管理濃度為按以下公式計算出的量。(從2005年4月1日開始實行)
E=3.0/(0.59Q+1) (參考)修訂前E=2.9/(0.22Q+1)E:管理濃度mg/m3 Q:游離硅含有率(%)
所以知道粉塵中游離硅酸的含有率是很重要的。
游離硅種類有石英、微晶物、鱗石英等。 在此回修訂中,首先規定使用X射線衍射裝置掌握含有什么種類的游離硅(定性分析),根據其定性結果,以使用磷酸法或X射線衍射裝置的基底標準吸收校正法進行定量。
下圖表示這些游離硅的衍射模式,分別具有各自的特征峰,因此,易于識別其種類。
物質的衍射X射線強度因受基底物質吸收的影響,必須進行校正。為進行校正必須求得基底物質的X射線吸收系數。可在一次的測定中將其完成的方法就是「基底標準吸收校正法」。本測定包包括采用了此基底吸收校正法的專用定量分析軟件。
各種游離硅的衍射模式
石棉的定性·定量分析
關于石棉,在2005年7月實施了【石棉傷害預防規則】。適用此規則的建材等樣品,如果其石棉含量chao過重量5%左右以上,則可使用X射線衍射裝置以標準添加法或內標添加法對采集來的樣品進行定量,但對于少于上述含量的樣品有時不能進行定量。
此時,作為只溶解樣品基底成分的前處理方法,實施甲酸前處理法,然后使用X射線衍射裝置以基底標準吸收校正法進行定量。
在石棉的定性 · 定量分析中,也可使用配備有基底標準吸收校正法的環境測定樣品臺的X射線衍射裝置XRD-6000環境測定包。
各種石棉的衍射模式
石棉主要有蛇紋石類的纖蛇紋石,角閃石類的鐵直閃石、虎睛石等。使用X射線衍射法利用它們的特峰進征行定量分析。