安捷特--XRF鍍層測厚儀 STARK系列
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- 產品簡介
- 產品性能參數
- 適用范圍
- 服務網點
一、功能：
1、采用X射線熒光光譜法：無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
2、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
3、可測量厚度范圍：Ti鈦—U鈾
4、鍍層層數：多至5層。
5、測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。
6、測量時間：通常60秒-180秒。
7、樣品max尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。
8、測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
9、可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
10、同時定量測量8個元素。
11、定性鑒定材料達20個元素。
STARK系列參數
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MODEL |
STARK |
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X射線光管 |
微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸約 0.2-0.8 mm ， |
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高壓管 |
50千伏（1.2毫安、60W瓦）可根據軟件控制優化 |
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探測器 |
高分辨正比氣體計數器 |
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準直器 |
單一固定準直器直徑0.3毫米或0.5毫米 |
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攝像頭 |
20倍放大自動對焦高清CCD彩色攝像頭 |
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樣品倉 |
330 X 200 X 170 mm(W X D X H) |
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樣品臺 |
固定平臺 |
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電源 |
230 VAC， 50—60 Hz,120W/100W |
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儀器尺寸 |
350 X 450 X 310 mm(W X D X H) |
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儀器重量 |
32KG |
