安捷特--XRF鍍層測厚儀 CUBE系列
現在位置：首頁 > 產品中心 > 安捷特--XRF鍍層測厚儀 CUBE系列
- 產品簡介
- 產品性能參數
- 適用范圍
- 服務網點
一、功能
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
2. 鍍層層數：多至5層。
3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。
4. 測量時間：通常35秒-180秒。
5. 樣品max尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。
6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
8. 同時定量測量8個元素。
9. 定性鑒定材料達20個元素。
自動測量功能：編程測量，自定測量；修正測量功能：底材修正，已知樣品修正
定性分析功能：光譜表示，光譜比較；定量分析功能：合金成份分析
數據統計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。
二、特點
1. 采用基本參數法校準，可在無標樣情況下生成校準曲線以完成測量。
2. X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調整Z軸距離，導致測量光程的變化，引起測量的誤差。
3. 具有多種測試功能，僅需要一臺儀器，即可解決多種測試
4. 相比其他分析設備，投入成本低
5. 儀器操作簡單，便可獲得很好的準確性和重現性
技術參數
|
Item 項目 |
Part & Ref Number 部件號 |
Commodity &Description 貨物及描述 |
|
1 |
Cube X射線鍍層測厚儀 |
· X射線光管 微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm · 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據軟件控制優化 · 探測器 高分辨氣體正比計數探測器 · 準直器 單一固定準直器直徑0.3mm · 樣品倉 330 x 200 x 170 mm · 樣品臺 手動Z軸樣品臺 · 電源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W · 儀器尺寸 350 x 420 x 310 mm · 儀器重量 27Kg · Windows 10操作系統和計算機主機 · 19寸液晶顯示器 |
